Mercadante, Antonio and Iavarone, Michele and Iorio, Marina and Molisso, Flavia and Funari, Valerio and Angelino, Antimo and Capodanno, Monica Misure XRF ad alta risoluzione effettuate con P-XRF integrato nel sistema MSCL-GEOTEK, limiti ed applicazioni. Technical Report. CNR ISMAR, Italia. (Unpublished)
|
Text
R.T. Misure XRF ad alta risoluzione effettuate con P-XRF, limiti ed applicazioni..pdf - Draft Version Download (3MB) | Preview |
Abstract
Rispetto alle tecniche analitiche convenzionali, gli spettrometri portatili che sfruttano il fenomeno della fluorescenza a raggi X (P-XRF) rappresentano un pratico, efficiente ed altamente produttivo strumento di analisi non distruttiva per la determinazione della composizione elementare di sedimenti e rocce. Le prestazioni P-XRF per l'analisi del suolo sono spesso comparabili rispetto alle tecniche di chimica umida, ma possono dar luogo a una serie di fattori di disparità dipendenti dagli elementi che influiscono sulle valutazioni di accuratezza e precisione. Questi elementi includono tempi di analisi, risoluzione del rivelatore, stabilità dello strumento durante le misure, fluttuazioni della fonte di alimentazione, deriva strumentale, film sottili protettivi, raggi X incidenti, interferenze degli analiti, spessore, larghezza ed eterogeneità del campione. Tali variabili evidenziano anche una differenza di comportamento tra i diversi elementi, in particolar modo tra elementi leggeri ed elementi pesanti (R. Ravansari et al. 2020 - K. Gabriela Mejía-Piña at al. 2016).
| Item Type: | Monograph (Technical Report) |
|---|---|
| Subjects: | 500 Scienze naturali e Matematica > 550 Scienze della Terra 500 Scienze naturali e Matematica > 550 Scienze della Terra > 551 Geologia, Idrologia, Meteorologia > 551.9 Geochimica |
| Depositing User: | Antonio Mercadante |
| Date Deposited: | 04 Dec 2024 16:27 |
| Last Modified: | 04 Dec 2024 16:27 |
| URI: | http://eprints.bice.rm.cnr.it/id/eprint/23261 |
Actions (login required)
 |
View Item |
